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芯片测试...
阅读量:2439 次
发布时间:2019-05-10

本文共 603 字,大约阅读时间需要 2 分钟。

有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多。请设计算法从其中找出一片好芯片,说明你所用的比较次数上限。

其中好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏。坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。

 

思路:

两块芯片比较,结果可能是(好好),(好坏),(坏坏)。如果结果是(好好),则可能是两块好芯片,也可能是两块坏芯片。如果结果是(好坏)或者(坏坏),则两块芯片中至少有一块是坏的。

1. 将2k块芯片分成k组,每组两个比较。如果结果是(好坏)或者(坏坏),则把两块芯片都去掉;如果结果是(好好),则任选其中一块去掉。可以保证剩下好芯片比坏芯片多。
2. 如果剩下1个或2个,则可以判断这些是好芯片。
3. 如果剩下偶数个,则回到第1步。
4. 如果剩下奇数个,则任取一个和其它所有芯片比较,如果有一半将此芯片判为好芯片,则说明此芯片为好芯片,测试结束;否则,说明此芯片为坏芯片,去掉此芯片(当然还可以去掉将此芯片判为好芯片的芯片)后总芯片数为偶数,回到第1步。
考虑最坏的情况:
第1次,进行k次比较,可以使芯片数减半;
第2次,k为奇数,则需要进行k-1次比较,使芯片数减为k-1。
第3次,通过(k-1)/ 2次比较可以使芯片数减为 (k-1)/2。
第4次,(k-1)/2为奇数,需要(k-1)/2 - 1次比较
第5次,需要 ((k-1)/2 - 1)/2次比较
..
所以最多4k次比较。

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